Специальные-кремниевые пластины с ориентацией для нулевых XRD-держателей фоновых образцов: подробное объяснение требований к ориентации

В экспериментах по дифракции рентгеновских лучей (XRD) использование подложки с нулевым фоном-может значительно уменьшить помехи от самой подложки к дифракционному сигналу образца, что приводит к более высокому качеству дифракционных картин.Выбор ориентации кристалла — один из основных факторов достижения нулевой-фоновой производительности.

Основной принцип

Выбор ориентации кристалла для подложек с нулевым-фоном следует простому принципу:Поместите основной дифракционный пик кремниевой подложки за пределы обычно используемого диапазона сканирования 2θ в экспериментах, избегая таким образом помех дифракционному сигналу от самого образца.

Диапазон сканирования обычных порошковых XRD-экспериментов в основном сосредоточен в5 градусов - 90 градусов (2θ), поэтому необходимо выбрать специальную ориентацию кристалла, чтобы характерный дифракционный пик кремния находился вне этого диапазона.

Часто используемые специальные ориентации

1. <510>Ориентация

• Дифракционные характеристики: Основной дифракционный пик кремния появляется под относительно большим углом 2θ, который превышает обычно используемый диапазон сканирования в обычных экспериментах по рентгенографии. Таким образом, в диапазоне 5–90 градусов почти не будет явного дифракционного пика на кремниевой подложке.
• Преимущества: отличная работа с нулевым-фоном. В настоящее время это наиболее часто используемая ориентация подложки с нулевым-фоном в научных исследованиях.
• Применимость: рекомендуется для большинства традиционных рентгенографических экспериментов, особенно для порошковой рентгенографии и рентгеновской рентгенографии под малым-углом.

2. <511>Ориентация

• Дифракционные характеристики: Похоже на<510>, его характерный дифракционный пик также находится за пределами обычного экспериментального диапазона и не будет вызывать значительных помех для сигнала образца.
• Преимущества: также обеспечивает превосходную-производительность в фоновом режиме.
• Применимость: Еще один распространенный выбор. Некоторые исследователи предпочитают эту ориентацию в зависимости от конфигурации прибора или экспериментальных привычек.

Почему традиционные ориентации не подходят?

Наиболее распространенные ориентации кремниевых пластин на рынке:<100>и<111>, но они не подходят для подложек с нулевым-фоном:

Таким образом, хотя традиционные ориентации легко доступны, они абсолютно не рекомендуются для экспериментов с нулевым фоном XRD.

Руководство по выбору ориентации

1. Выбор в зависимости от испытательного диапазона: Если ваш эксперимент в основном сосредоточен на области малых-углов (рентгеноструктурный анализ при малых-углах), оба<510>и<511>могут удовлетворить спрос, и оба имеют нулевой-фоновый эффект.
2. Выбирайте исходя из личных привычек: В разных лабораториях могут существовать традиционные привычки использования. Обе ориентации широко приняты в академических кругах, и вы можете выбирать исходя из собственного опыта.
3. Небольшая партия по индивидуальному заказу: Специальные ориентации невозможно получить из обычного инвентаря, и они требуют индивидуальной резки. Мы поддерживаем небольшие-партийные настройки обоих<510>и<511>ориентации, при минимальном заказе 5 шт.

Сводная таблица

О нас

Компания Ningbo Sibranch Microelectronics Technology Co., Ltd. может настроить и предоставить<510>или<511>ориентация XRD с нулевым-фоновым фоном кремниевых пластин в соответствии с требованиями исследований. Мы поддерживаем специальные размеры, толщину и требования к обработке поверхности, а также принимаем заказы на небольшие партии.

Веб-сайт: www.sibranch.com|https://www.sibranchwafer.com/
Официальный аккаунт WeChat: Сифилиал Электроникс

По вопросам настройки, пожалуйста, свяжитесь с нами.